قطعه ای از تجهیزات الکترونیکی طراحی شده برای آزمایش تراشه ها برای بررسی اینکه آیا کار می کنند یا خیر، و اگر چنین است، چقدر خوب (معمولا چقدر سریع) کار می کنند. تسترها معمولاً به عنوان تسترهای تراشه حافظه، تسترهای تراشه منطق دیجیتال یا تسترهای تراشه آنالوگ تخصصی هستند، اگرچه برخی از تسترهای پیچیده تر می توانند با بیش از یکی از این گروه ها سر و کار داشته باشند. تسترها از یک واحد کنترل تست یا پنل و سر تست تشکیل شده اند. آزمایش‌کننده‌ها در ارتباط با رابط‌ها، واحدهای منبع و اندازه‌گیری، کنترل‌کننده‌ها یا کاوشگرها استفاده می‌شوند. رابط یا سیستم اتصال مسیرهای الکتریکی را برای سیگنال‌های محرک (ورودی) و سیگنال‌های اندازه‌گیری (خروجی) به دستگاه تحت آزمایش (DUT) ارائه می‌کند. واحدهای منبع یک سیگنال منبع یا ورودی محرک را ارائه می دهند. واحدهای اندازه‌گیری، سیگنال خروجی قطعه یا DUT را اندازه‌گیری می‌کنند.

ماژول‌های آزمایشی، زیرسیستم‌ها یا واحدها شامل بانک‌های بار هستند. سیستم های گازرسانی؛ کنترل کننده های تست؛ متر، مانیتور، واحد جمع‌آوری داده یا ماژول‌های اندازه‌گیری؛ کوره ها، چیلرها یا سایر کنترل کننده های دما؛ و کنترل‌کننده‌های رطوبت یا رطوبت.

ماژول یا واحد تجهیزات آزمایشی که سیگنال خروجی قطعه یا DUT را اندازه‌گیری یا نظارت می‌کند.

ماژول یا واحد تجهیزات آزمایشی که سیگنال منبع یا ورودی محرک را ارائه می‌کند.

دستگاه یا سیستم فرعی الکترومکانیکی که برای جابجایی، قرار دادن و مرتب‌سازی دستگاه‌های بسته‌بندی شده (تراشه‌هایی که از ویفر بریده شده‌اند، با اتصالات سیمی به هم متصل شده‌اند و با مواد عایق بسته‌بندی شده‌اند) طراحی شده است. کاوشگرها یا کاوشگرهای ویفر، دستگاه‌هایی هستند که ویفرهای سیلیکونی را در طول فرآیند آزمایش کنترل، حمل و جابجا می‌کنند.

کارت پروب، برد رابط عملکرد، سوکت آزمایش یا واحد کنتاکتور اتصال الکتریکی بین دستگاه تحت آزمایش (DUT) و آزمایش‌کننده را فراهم می‌کند. کارت پروب یا برد مدار چاپی دارای سوزن‌ها، تیغه‌ها یا پروب‌هایی است که رابط الکتریکی بین DUT و آرایه تماس فنری را در رابط پروبر-تستر (PTI) فراهم می‌کنند. PTI یک اتصال الکتریکی امپدانس کنترل شده بین سر تست و کارت پروب (حداقل ظرفیت، اندوکتانس و مقاومت DC) است.

واحد دارای بار الکترونیکی یا بار مقاومتی DC است. تجهیزات تست خودکار برای منابع تغذیه معمولاً نیاز به بار دارند.

تستر توانایی دریافت اطلاعات CAD برای تولید برنامه های کنترل تست را دارد. تستر ممکن است کتابخانه ای از برنامه های آزمایشی برای کنترل تستر یا توانایی تولید برنامه های آزمایشی داشته باشد.

ATE های گسسته اجزای فعال شامل ترانزیستورها، دیودها، ماسفت ها، رگولاتورها، تریاک ها، زنرها، SCR ها و J-FET ها را آزمایش می کنند.

تجهیزات تست طراحی شده برای ارزیابی عملکرد تجهیزات صوتی.

تجهیزات آزمایشی طراحی شده برای ارزیابی عملکرد اویونیک یا الکترونیک نظامی.

تجهیزات آزمایشی طراحی شده برای ارزیابی عملکرد بردهای مدار چاپی کامل یا مجموعه‌هایی که با اجزای فعال و غیرفعال مورد نیاز بارگذاری یا پر شده‌اند.

تسترهای برد لخت برای تشخیص کامل بودن مدار PCB قبل از مونتاژ و لحیم کاری موجی استفاده می شود.

تجهیزات آزمایشی طراحی‌شده برای ارزیابی عملکرد کابل‌ها، دسته‌های سیم‌کشی، صفحات پشتی یا حلقه‌های شبکه (حلقه‌های مسی، خطوط جفت پیچ خورده). برای تشخیص باز شدن (اتصالات از دست رفته)، اتصالات کوتاه (اتصالات باز) و سیم‌های نادرست (پین‌های اشتباه) در دسته کابل، پانل‌های توزیع، دستگاه‌های بافندگی سیم‌کشی، مدارهای انعطاف‌پذیر و پانل‌های سوئیچ غشایی با پیکربندی‌های متداول اتصال دهنده استفاده می‌شود. همچنین، تجهیزات آزمایشی طراحی شده برای ارزیابی هواپیماهای پشتی رایانه، شاسی یا مادربردها.

تجهیزات تست طراحی شده برای ارزیابی یا تست عملکرد نمایشگر (LED، OLED، LCD، پلاسما، CRT)، درایورهای نمایشگر و سایر تجهیزات ویدئویی یا بینایی (دیجیتال یا آنالوگ).

برای آزمایش سیگنال های خطی، مختلط یا سایر اجزای آنالوگ مانند مبدل های آنالوگ به دیجیتال (ADC)، مبدل های دیجیتال به آنالوگ (DAC)، مقایسه کننده ها، تقویت کننده های ردیابی و نگه داشتن و محصولات ویدیویی. این اجزا دارای ویژگی هایی مانند رابط های صوتی، عملکردهای پردازش سیگنال و فرستنده و گیرنده های پرسرعت هستند.

سیستم‌های تست منطقی برای انجام آزمایش ریزپردازنده‌ها، آرایه‌های دروازه، ASIC و سایر دستگاه‌های منطقی طراحی شده‌اند.

تجهیزات تست طراحی شده برای ارزیابی عملکرد ضربان سازها یا سایر قطعات الکترونیکی پزشکی حیاتی.

تجهیزات تست برای آزمایش SDRAM، DDR-SDRAM SIMM و DIMM.

تجهیزات تست برای آزمایش MEMS، حسگرهای فشار، شتاب‌سنج‌ها یا سایر حسگرها یا دستگاه‌های الکترومکانیکی.

تجهیزات آزمایشی طراحی شده برای ارزیابی عملکرد روترهای شبکه، سوئیچ‌ها، هاب‌ها یا انواع دیگر اجزای شبکه و تجهیزات ارتباطی.

تجهیزات آزمایشی طراحی شده برای ارزیابی عملکرد فتودیودها، لیزرها، دیودهای لیزر، سلول‌ها یا ماژول‌های فتوولتائیک، سوئیچ‌های فیبر نوری و سایر اجزای اپتوالکترونیکی.

ATEهای مؤلفه غیرفعال، مؤلفه‌های غیرفعال از جمله خازن‌ها، مقاومت‌ها، سلف‌ها و غیره را آزمایش می‌کنند. معمولاً آزمایش با اعمال جریان آزمایشی انجام می‌شود.

تجهیزات آزمایشی طراحی شده برای ارزیابی عملکرد منابع تغذیه متناوب، مبدل‌های برق AC-DC، ترانسفورماتورها، سیستم‌های UPS، شارژرهای باتری، یکسو کننده‌ها، اینورترها یا سایر منابع تغذیه.

تجهیزات آزمایشی طراحی شده برای ارزیابی عملکرد RF، مایکروویو و سایر قطعات یا تجهیزات بی سیم.

دستگاه‌های سیستم روی تراشه (SOC) از یک یا چند هسته پردازشگر، حافظه‌های تعبیه‌شده، رابط‌های جانبی و گاهی اوقات مدارهای سیگنال مختلط تشکیل شده‌اند که روی یک تراشه واحد ادغام می‌شوند تا یک سیستم کامل یا تقریباً کامل را تشکیل دهند.

تجهیزات تست طراحی شده برای ارزیابی عملکرد قطعات الکترونیکی یا الکتریکی از راه دور یا خودرو. Telematics یک سیستم ارتباطی بی سیم است که برای جمع آوری و انتشار داده ها طراحی شده است. برنامه های کاربردی شامل سیستم های الکترونیکی مبتنی بر وسیله نقلیه، تلفن همراه، ردیابی و موقعیت یابی خودرو، خدمات ناوبری و اطلاعات آنلاین و کمک های اضطراری است. برنامه های استاتیک شامل کنترل انبار (سفارش خودکار) و نظارت بر کنتورهای برق است.

یک تست عملکردی یک محیط عملیاتی را شبیه سازی می کند و یک برد را با مشخصات عملکردی آن آزمایش می کند. روش تست عملکردی بردارهای الگو را بر روی یک دستگاه اعمال می کند و خروجی را بررسی می کند تا مشخص کند که دستگاه مطابق جدول حقیقت خود عمل می کند.

تجهیزات تست می توانند تست عمر یا استقامت را انجام دهند. آزمایش زندگی ممکن است معمولی یا بسیار تسریع شده برای کاهش زمان آزمایش باشد.

آزمایش‌های پارامتریک، مرتب‌سازی ویفر یا سایر آزمایش‌های در حین فرآیند، اندازه‌گیری و تأیید ویژگی‌های ولتاژ و جریان پایانه در پین دستگاه هستند.

عیوب ساخت با استفاده از آنالایزرهای عیب تولیدی (MDA)، مانند شورت و اجزای مفقود، شناسایی می‌شوند، اما نمی‌توانند آی سی‌های دیجیتال را آزمایش کنند، زیرا دستگاه تحت آزمایش (UUT) خاموش (سرد) است. در نتیجه، آنها فرض می کنند آی سی ها خوب هستند. از MDAها به عنوان آزمایش کننده مدار آنالوگ نیز یاد می شود.

این نوع تست اجزایی را که بخشی از مجموعه برد هستند تست می کند. اجزای مورد آزمایش "در یک مدار" هستند. واحد تحت آزمایش (UUT) روشن می شود (گرم). همچنین به عنوان آزمایش کننده مدار دیجیتال نیز شناخته می شود.

سیستم‌های آزمایشی که شبیه‌سازی یک محصول را به منظور آزمایش یک مؤلفه در ارتباط با محصول شبیه‌سازی شده یا شبیه‌سازی شده ارائه می‌دهند. شبیه‌ساز دستگاه، برنامه رایانه‌ای یا سیستمی است که ورودی‌های یکسانی را می‌پذیرد و خروجی‌های یکسانی را تولید می‌کند.

JTAG یا روش تست اسکن مرزی امکان کنترل و مشاهده کامل پین های مرزی (I/O) را از طریق یک رابط استاندارد فراهم می کند. با آزمایش اسکن مرزی، کاربر می‌تواند اتصالات درون PCB را بدون استفاده از پروب در هر گره آزمایش کند. ارزیابی‌ها ممکن است شامل آزمایش سطح دستگاه و همچنین آزمایش‌های مدار پین مختلط، واقعی و مجازی باشد. JTAG مخفف Joint Test Action Group ("jay-tag") است. در ابتدا، JTAG نام تیمی بود که روش را توسعه می‌داد، اکنون این اصطلاح با خروجی تیم مرتبط شده است. JTAG اکنون اساساً مترادف با استاندارد IEEE 1149.1 برای درگاه دسترسی آزمایشی و اسکن مرزی است.

از روش آزمایش بردار الگوی استفاده نمی کند، همانطور که در فرآیند تست عملکردی اعمال می شود. روش‌شناسی تست‌های کیو آئروفلکسTM نمونه‌ای از روش تست بدون برداری برای تشخیص مدارهای باز است که دسته بزرگی از خطاهای تولیدی را تشکیل می‌دهند. . روش‌های آزمایش بدون برداری یا Q-testTM مدارهای باز را در دستگاه‌های سفارشی یا پیچیده که در آن‌ها هیچ دسترسی یا داده‌ای برای تولید آزمایش کامل در دسترس نیست، شناسایی می‌کند. آزمایش‌های بدون برداری معمولاً از تکنیک‌های کاوش خازنی یا القایی استفاده می‌کنند.

ابزارهای اشعه ایکس و سیستم‌های بازرسی نوری یا بینایی برای تشخیص عیوب فیزیکی سطح یا زیرسطح استفاده می‌شوند. روش‌های بازرسی نوری شامل میکروسکوپ‌های پروب روبشی برای آشکارسازی عیوب سطحی است. ابزارهای بازرسی اشعه ایکس می‌توانند با نگاه کردن به لایه‌های عایق که از نظر نوری مات هستند، عیوب زیرسطحی را تشخیص دهند. بازرسی های اشعه ایکس و نوری نیازی به تجهیزات آزمایشی ندارند و برای یافتن اتصالات باز یا شورت نیازی به هیچ منبع الکتریکی یا اندازه گیری ندارند. با این حال، برخی از ابزارهای تصویربرداری نوری یا حرارتی با منابع الکتریکی برای یافتن نقاط داغ در مدارها همراه هستند.

هر شبکه مدار روی برد به تستر متصل می شود، معمولاً با یک میخ در هر شبکه. BON ها معمولاً به یک منبع خلاء یا هوا نیاز دارند.

همچنین به عنوان کاوشگر پرنده یا کاوشگر شناور شناخته می شود. کاوشگرهای پرنده برای تست باز و شورت استفاده می‌شوند. سیستم کاوشگر پرنده از تعداد کم پروب های متحرک به جای تعداد زیاد پروب های ثابت در BON استفاده می کند. زمان تست ممکن است به دلیل حرکات پروب کندتر باشد، اما این روش مزایای جبرانی دارد. در عمل، یک کاوشگر پرنده می تواند نزدیک به 100٪ پوشش آزمایشی را روی یک برد با هزاران شبکه از اجزای غیرفعال و صدها دستگاه دیجیتال ارائه دهد.

اتصالات یا رابط های نوری برای ارزیابی تجهیزات نوری، فیبر نوری یا فوتونیک استفاده می شود.

برد رابط عملکرد، برد بار DUT یا کارت های پروب، بردهای مدار چاپی تخصصی هستند که برای آزمایش قطعات نیمه هادی یا غیرفعال استفاده می شوند.

تجهیزات تست قابلیت سوختن دستگاه یا برد را در حین تست دارند. تست سوختگی در دستگاه‌های با قدرت بالا استفاده می‌شود و معمولاً به واحد کنترل دما نیاز دارد. واحد کنترل دما از داغ شدن بیش از حد تراشه‌های پرقدرت در طول فرآیند تست سوختگی جلوگیری می‌کند.

تجهیزات آزمایشی دارای قابلیت اندازه‌گیری ظرفیت در برابر ولتاژ هستند.

تستر دارای قابلیت تشخیص خطا، تجزیه و تحلیل منطقی یا اشکال زدایی است.

تجهیزات آزمایشی دارای قابلیت اندازه‌گیری ولتاژ و جریان هستند.

تجهیزات تست دارای قابلیت اندازه‌گیری مقاومت و امپدانس هستند.

آزمایش‌کننده، واحد منبع، واحد اندازه‌گیری یا زیرسیستم توانایی انجام خود کالیبراسیون یا تأیید آزمایش را دارد.

گزارش‌های کنترل فرآیند آماری را ثبت، تجزیه و تحلیل، ردیابی و ارائه می‌کند.

قالب داده‌های تست استاندارد (STDF) یک قالب داده استاندارد صنعتی است که توسط Teradyne ابداع شده است.

تستر این قابلیت را دارد که با استفاده از کنترلرها و هیترها، اجاق ها، یونیت های خنک کننده یا چیلرها، دمای واحد مورد آزمایش را کنترل کند.