ابزار دقیق لایه های نازک
ابزارهایی مانند مانیتورهای میکروبالانس کریستال کوارتز (QCM)، بیضی‌سنج‌ها، سیستم‌های RHEED، ایستگاه‌های تصویربرداری، CD-SEM، آسیاب یونی، سیستم‌های C-V که به‌طور خاص برای اندازه‌شناسی ویفر یا پایش درجا پارامترهای لایه نازک در طول پردازش فیلم نازک یا نیمه‌رسانا طراحی شده‌اند.
معادل انگلیسی ابزار دقیق لایه های نازک Wafer and Thin Film Instrumentation می باشد.
امکان فیلتر و جستجوی کالا و خدمات مورد نظر شما در این بخش قابل انجام است. شما می توانید با انتخاب پارامترهای ویژگیهای مورد نظر، برای دسته ابزار دقیق لایه های نازک جستجو کنید.
ویژگیها و مشخصات قابل جستجو می تواند شامل این موارد باشد :
برای هر دسته از ویژگیها، می توانید با تعیین یا انتخاب مقادیر زیر مجموعه آن، فیلتر و جستجوی دقیقی انجام دهید
تامین کنندگان (0)
کاتالوگ‌ها(0)
اطلاعات کسب و کار | تعداد کاتالوگ |
|---|---|
| داده‌ای موجود نیست | |