ابزار دقیق اندازه گیری فیلم نازک

ابزارهایی مانند نمایشگرهای میکروبالانس کریستال کوارتز (QCM)، بیضی‌سنج‌ها، سیستم‌های RHEED، ایستگاه‌های تصویربرداری، CD-SEM، آسیاب‌های یونی، سیستم‌های C-V که به‌طور خاص برای اندازه‌شناسی ویفر یا پایش درجا پارامترهای لایه نازک در طول پردازش فیلم نازک یا نیمه‌رسانا طراحی شده‌اند.

معادل انگلیسی ابزار دقیق اندازه گیری فیلم نازک Wafer and Thin Film Instrumentation می باشد.


امکان فیلتر و جستجوی کالا و خدمات مورد نظر شما در این بخش قابل انجام است. شما می توانید با انتخاب پارامترهای ویژگیهای مورد نظر، برای دسته ابزار دقیق اندازه گیری فیلم نازک جستجو کنید.

ویژگیها و مشخصات قابل جستجو می تواند شامل این موارد باشد :

برای هر دسته از ویژگیها، می توانید با تعیین یا انتخاب مقادیر زیر مجموعه آن، فیلتر و جستجوی دقیقی انجام دهید

فیلتر کردن
مشخصات را به نتایج اضافه کنید .
فیلتر کردن
تامین کنندگان (0)
کاتالوگ‌ها(0)
اطلاعات کسب و کار
داده‌ای موجود نیست